Microscopía Electrónica de Sonda de Barrido (SPM)

Consiste en una serie de técnicas de microscopía donde una sonda hace un barrido sobre la superficie de una muestra y la o las interacciones sonda-muestra son monitoreadas.

Principales formas de SPM

Microscopio de Tunelaje (STM)

aprovecha el fenómeno de que la corriente de tunelaje entre una muestra conductora y una punta igualmente conductora son dependientes exponencialmente de la separación entre ambas.

Aplicaciones

Imágenes de resolución atómica

STM Electroquímico(ECSTM)

Espectroscopía de Tunelaje (STS

Imágenes a baja corriente de muestras pobremente conductoras

Microscopio de Fuerza Atómica (AFM)

Modo de Contacto

Opera al muestrear una punta sujeta a un extremo de un cantiliver sobre la superficie de una muestra mientras se monitorea la deflexión del cantiliver con un fotodiodo

Ventajas

Es la única técnica de AFM para resolución atómica

Puede analizar muestras muy rugosas

Desventajas

Hay fuerzas laterales que pueden distorsionar la imagen

Puede dañar muestras blandas

Aplicación

Desadsorción de partículas de la muestra

Modo de No-Contacto

Modo Oscilatorio

Aplicación

Minimización en la desadsorción de partículas

Conceptos

Sonda (Tip)

Dispositivo del microscopio que interacciona con la muestra

Controlador piezoeléctrico (Scanner)

Piezoeléctrico que controla la
sonda y/o la muestra

Mecanismo de detección

Dependerá de la técnica
(fotodetector o multímetro)

Circuito electrónico de retroalimentación (feedback)

Capacidad de un emisor para recoger reacciones de los receptores y modificar su mensaje, de acuerdo con lo recogido.

Opera por medio de una punta sujeta al extremo de un cantiliver que oscila sobre la superficie de la muestra

Se hace oscilar a una frecuencia por arriba de su frecuencia de resonancia a una amplitud  10 nm, para obtener una señal de CA.

Ventajas

No ejerce fuerzas sobre la muestra

Desventajas

Limitada resolución lateral

Trabaja sobre muestras hidrofóbicas

Para muestras que adsorben mucho fluido, la unto queda atrapada

Desventajas

Velocidad de muestreo menor que en AFM-Contacto

Ventajas

Alta resolución lateral (1-5nm)

Las fuerzas laterales son casi eliminadas, por lo que prácticamente no hay daño sobre la muestra