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Definicion

MEDIDAS DE ASIMETRIA Y APUNTAMIENTO

características de la asimetria

cuando los valores mas comunes de la distribución son menores , esta asimetría es positiva

los valores de las variables son mas frecuentes ósea los mayores y si la distribución presenta una cola a la izquierda esta asimetría es negativa

medidas de asimetría

se define como momento central de orden 3 y desviacion tipica elevada al cubo

se denota por g1

para medir la asimetría de una distribución se utiliza diferentes coeficientes, en la que se puede obtener el denominado coeficiente de asimetria

ASIMETRIA:

es la medida que indica la simetría de la distribución de una variable respecto a la media aritmética, sin necesidad de hacer la representación gráfica.

es una medida de forma que mide cuán escarpada o achatada está una curva o distribución. Este coeficiente indica la cantidad de datos que hay cercanos a la media, de manera que a mayor grado de curtosis, más escarpada (o apuntada) será la forma de la curva.

CARACTERITICAS DE MEDIDAS DE APUNTAMIENTO

tipos

Platicurtica

Mesocurtica

Leptocurtica

medidas

datos agrupados en intervalos

tablas de frecuencias

datos sin agrupar

Topic principal

MEDIDAS DE APUNTAMIENTO

parámetros

g2 (X) <0

la distribución es platicurtica, mas achatada que la normal

g2 (X)=0

distribución es mesocurtica , es decir igual que la normal

si g2 (X) la distribución es leptocurtica

se define para

variable X

Y=X-B

son las que analizan si una distribución de frecuencias es mas apuntada o menos al comparar esta como distribución normal , es decir con su misma medida y varianza

se denota por :

g2

apuntamiento

La curtosis es una medida estadística que determina el grado de concentración que presentan los valores de una variable alrededor de la zona central de la distribución de frecuencias. También es conocida como medida de apuntamiento.

REFERENCIAS

García, J. E (2005). Análisis de Datos Unidimensionales.et al. Madrid: Paraninfo. Página 26 -42 Monroy, S. S. (2005). Estadística descriptiva. México, D.F., MX: Instituto Politécnico Nacional. (pp 55-79)